実験設備リスト
無機試料合成系 | ||||
石英電気管状炉 | 島津製作所AMF-D | 〜1150℃,雰囲気可変 | ||
マッフル炉 | KDF S-70 | 〜1150℃ | ||
大型マッフル炉 | KDF S-90 | 〜1150℃ VENTIFLATOR VF72装着 | ||
恒温恒湿器 | ヤマト科学IG-43M | |||
恒温恒湿器 | ヤマト科学IH-42M | |||
定温乾燥機 | 井内IDO-450 | 40〜300℃ | ||
乾燥機 | 不二製作所FJ-60S | |||
ホットプレートスターラー | 日本シーベルヘグナーMR-3001 | |||
ドラフトチャンバー | ヤマト科学KFS1200 | |||
水素警報機 | ||||
遠心分離機 | コクサンH-26F | |||
※2009年廃棄済 | ||||
蒸留水製造装置 | ヤマトWS200 | 2009年新規購入 | ||
恒温水槽 | SIBATA PAL C-302 | |||
pHメーター | HORIBA F-23 | |||
オートクレーブ | 耐圧硝子工業TEM-D1000M | 〜200℃,〜2MPa,1Lまで | ||
スピンコータ | アクティブ(株)ACT-300D | |||
ロータリエバポレータ | SIBATA Rotavapor R-200, 加熱B490, Vac V-500 | |||
グローブボックス | UNICO,EZ-650L | |||
自動乳鉢 | 日陶科学,ALM-150 | |||
結晶構造解析 | ||||
粉末X線回折装置(XRD) | 島津 XD-D1 | モノクロメータ付属 | ||
粉末X線回折装置(XRD) | リガク Miniflex | |||
粉末X線回折装置(XRD) | マックサイエンス MXP3HF22 | |||
Rietveld法構造精密化プログラム | RIETAN 2000 | |||
元素分析 | ||||
蛍光X線分析装置(XRF) | 島津 XRF-1700 | 波長分散型 | ||
2010年度末廃棄済み | ||||
熱分析測定 | ||||
示差熱・熱重量同時測定装置(TG・DTA) | 島津製作所 DTG-50 | 空冷型 室温〜1000℃ 読取限界0.001mg | ||
示差走査熱量計(DSC) | 島津製作所 DSC-60 | 〜500℃ | ||
熱分析ワークステーション | 島津製作所 TA-60WS | |||
熱分析装置 | リガク Thermo plus TG8120 | |||
電気物性測定 | ||||
デジタルマルチメーター | ヒューレットパッカードHP34401A | 分解能 100nV, 0.1mOhm | ||
デジタルマルチメーター | アジレントテクノロジー34401A | 分解能 100nV, 0.1mOhm | ||
定電流電源 | アドバンテストR6144 | |||
直流4探針法測定器 | 三菱化学 ロレスタ MCP-T350 | |||
複素インピーダンス解析LCRハイテスタ | 日置電機3532 | 42 Hz - 5 MHz | ||
錠剤成型器 | 日製産業 | |||
デジタル温度計 | YOKOGAWA TX10 | |||
データロガー | キーエンス NR-U60, NR600, NR-TH08 | |||
ポテンショスタット | 北斗電工 HA-151A | |||
ファンクションジェネレータ | 北斗電工 HB-111A | |||
データロガー | グラフテック GL200A | |||
吸収スペクトル測定 | ||||
近赤外可視紫外分光光度計 | 日本分光 V570 | 波長領域 190nm-2500nm | ||
分光光度計 | 日立製作所U-1000 | 波長領域 350nm-1100nm | ||
電子天秤 | ||||
分析用精密電子天秤 | エーアンドデイGR-202 | 最小表示0.01mg(42gまで) | ||
多機能電子天秤 | エーアンドデイHX-400 | 最小表示1mg(410gまで) | ||
電子分析天秤 | ザルトリウスBJ6100 | 最小表示0.1g(6100gまで) | ||
電子天秤 | 新光電子 ViBRA DJ-610 | 最小表示0.01g(610gまで) | ||
電子顕微鏡 | ||||
走査電子顕微鏡SEM | 日本電子JSM-5610 | |||
顕微鏡 | ||||
光学顕微鏡 | オリンパス BX-51, カメラDP-12 | 透過型、反射型 | ||
材料試験器 | ||||
オートグラフ | 今田製作所SV-201 | 1 N - 2000 N | ||
燃焼性試験機 | スガ試験機 FL-45B | |||
レーザー分光測定 | ||||
半導体励起YAGレーザー | CrystaLaser社製 GCL-025S | 波長532nm、出力25mW、単一縦モード | ||
ヘリウムネオンレーザー | Uniphaser社製 1135P | 波長632nm、出力10mW | ||
プリアンプ | EG&G Nanovolt Preampifier 5003 | |||
プリアンプ | EG&G Ultra Low Noise Preamplifier 5004 | |||
アイソレーションアンプ | NF回路 5325 | |||
フォトダイオード | 浜松フォトニクス S2839 | SiliconPIN型 | ||
フォトダイオード | オプトフォーカス ET-2010 | SiliconPIN型 0.4A/W 1ns 350-1100nm | ||
AD変換ボード | インターフェイス社 IBX3112 | 1MHz | ||
光学実験台 | VISOLATER製 卓上型 | |||
63号館設置機器 | ||||
走査型電子顕微鏡EDX付 | 日立&堀場製 SEMEDXIII Type N | 空間分解能3.5nm(低真空時4.5nm) | ||
X線光電子分光装置 | ESCA-3400(Kratos Analytical) | |||