実験設備リスト
無機試料合成系 | ||||
石英電気管状炉 | 島津製作所AMF-D | 〜1150℃,雰囲気可変 | 温度設定マニュアル | |
石英電気管状炉 | アサヒ理化製作所AGC-1P | 〜1150℃,雰囲気可変 | 温度設定マニュアル | |
マッフル炉 | KDF S-70 | 〜1150℃ | ||
大型マッフル炉 | KDF S-90 | 〜1150℃ VENTIFLATOR VF72装着 | ||
恒温恒湿器 | ヤマト科学IG-43M | |||
恒温恒湿器 | ヤマト科学IH-42M | |||
定温乾燥機 | EOP-450B | 40〜300℃ | ||
定温乾燥機 | DOV-450P | 40〜300℃ | ||
真空乾燥機 | ETTAS AVO-250SB | 40〜220℃ | ||
真空乾燥機 | ETTAS AVO-250NS-D | 40〜220℃ | ||
ホットプレートスターラー | 日本シーベルヘグナーMR-3001 | |||
ドラフトチャンバー | ヤマト科学KFS1200 | |||
水素警報機 | ||||
遠心分離機 | コクサンH-26F | |||
蒸留水製造装置 | ヤマトWS200 | |||
恒温水槽 | SIBATA PAL C-302 | |||
pHメーター | HORIBA F-23 | |||
オートクレーブ | 耐圧硝子工業TEM-D1000M | 〜200℃,〜2MPa,1Lまで | オートクレーブ | 耐圧硝子工業TAS-5 | 〜120℃,〜2MPa,5Lまで |
スピンコータ | アクティブ(株)ACT-300D | |||
ロータリエバポレータ | SIBATA Rotavapor R-200, 加熱B490, Vac V-500 | |||
グローブボックス | UNICO,EZ-650L | |||
自動乳鉢 | 日陶科学,ALM-150 | |||
結晶構造解析 | ||||
粉末X線回折装置(XRD) | リガク Miniflex 600 | 高速1次元検出器D/teX Ultra2 | ||
粉末X線回折装置(XRD) | リガク Miniflex | |||
Rietveld法構造精密化プログラム | RIETAN-FP | |||
熱分析測定 | ||||
示差熱・熱重量同時測定装置(TG・DTA) | 島津製作所 DTG-50 | 空冷型 室温〜1000℃ 読取限界0.001mg | ||
示差走査熱量計(DSC) | 島津製作所 DSC-60 | 〜500℃ | ||
熱分析ワークステーション | 島津製作所 TA-60WS | |||
電気物性測定 | ||||
デジタルマルチメーター | ヒューレットパッカードHP34401A | 分解能 100nV, 0.1mOhm | ||
デジタルマルチメーター | アジレントテクノロジー34401A | 分解能 100nV, 0.1mOhm | ||
定電流電源 | アドバンテストR6144 | |||
ポータブル充放電装置 | エレクトロフィールドEF-7100P | |||
直流4探針法測定器 | 三菱化学 ロレスタ MCP-T350 | |||
複素インピーダンス解析LCRハイテスタ | 日置電機3532 | 42 Hz - 5 MHz | ||
錠剤成型器 | 日製産業 | |||
デジタル温度計 | YOKOGAWA TX10 | |||
バッテリー充放電装置 | 北斗電工 HJ-201B | |||
ポテンショスタット | 北斗電工 HA-151A | |||
ファンクションジェネレータ | 北斗電工 HB-111A | |||
データロガー | グラフテック GL200A | |||
吸収スペクトル測定 | ||||
近赤外可視紫外分光光度計 | 日本分光 V570 | 波長領域 190nm-2500nm | ||
電子天秤 | ||||
分析用精密電子天秤 | エーアンドデイGR-202 | 最小表示0.01mg(42gまで) | ||
多機能電子天秤 | エーアンドデイHX-400 | 最小表示1mg(410gまで) | ||
電子分析天秤 | ザルトリウスBJ6100 | 最小表示0.1g(6100gまで) | ||
電子天秤 | 新光電子 ViBRA DJ-610 | 最小表示0.01g(610gまで) | ||
電子顕微鏡 | ||||
走査電子顕微鏡SEM | 日本電子JSM-5610 | マニュアル | ||
顕微鏡 | ||||
光学顕微鏡 | オリンパス BX-51, カメラDP-12 | 透過型、反射型 | ||
高分子材料関係 | ||||
二軸混練機 | ムサシノキカイ 50cc | |||
燃焼性試験機 | スガ試験機 FL-45B | |||
オートグラフ | 今田製作所SV-201 | 1 N - 2000 N | ||
レーザー分光測定 | ||||
半導体励起YAGレーザー | CrystaLaser社製 GCL-025S | 波長532nm、出力25mW、単一縦モード | ||
ヘリウムネオンレーザー | Uniphaser社製 1135P | 波長632nm、出力10mW | ||
24号館設置機器 | ||||
粉末X線回折装置 XRD | リガク Ultima IV | |||
電界放出型走査型電子顕微鏡 FE-SEM | JEOL JSM-7100F | |||
蛍光X線分析装置 XRF | JEOL JSX-1000S | |||
示差熱熱重量同時測定装置 DTA-TG | 日立 STA200RV | |||